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二次离子质谱计

                    èrcì lízǐ zhìpǔjì                

名詞

二次イオン質量分析計（SIMS）、表面分析用の質量分析装置。

📝 分析化学・材料科学用語。一次イオンで試料表面をたたき出した二次イオンを分析する。

二次离子质谱计能分析材料表面成分。 (Èrcì lízǐ zhìpǔjì néng fēnxī cáiliào biǎomiàn chéngfèn.)

二次イオン質量分析計は材料表面の成分を分析できる。

实验室购置了一台二次离子质谱计。 (Shíyànshì gòuzhì le yì tái èrcì lízǐ zhìpǔjì.)

研究室は二次イオン質量分析計を一台購入した。

二次离子质谱计的灵敏度很高。 (Èrcì lízǐ zhìpǔjì de língmǐndù hěn gāo.)

二次イオン質量分析計の感度は非常に高い。

⚖️ 類義語との比較

「二次离子质谱计」は表面分析用の特定の質量分析計。「质谱仪（zhìpǔyí）」は質量分析計一般を指す。

生成: claude-opus-4-7 ／生成日: 2026/06/03 00:12 ／ v1 ／ ★☆☆☆ AI生成 (未検証)

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