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飞行时间二次离子质谱分析

                    fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī                

名詞

飛行時間型二次イオン質量分析（TOF-SIMS）。表面分析に用いる質量分析手法。

📝 分析化学・材料分析の専門用語。

他们用飞行时间二次离子质谱分析检测了样品表面。 (Tāmen yòng fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī jiǎncè le yàngpǐn biǎomiàn.)

彼らはTOF-SIMSで試料の表面を測定した。

飞行时间二次离子质谱分析具有很高的灵敏度。 (Fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī jùyǒu hěn gāo de língmǐndù.)

TOF-SIMSは非常に高い感度をもつ。

这项研究依赖飞行时间二次离子质谱分析的数据。 (Zhè xiàng yánjiū yīlài fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī de shùjù.)

この研究はTOF-SIMSのデータに依拠している。

⚖️ 類義語との比較

「飞行时间二次离子质谱分析」は表面の二次イオンを飛行時間で分析する手法で、一般的な「质谱（質量分析）」の一種である。

生成: claude-opus-4-7 ／生成日: 2026/06/03 08:29 ／ v1 ／ ★☆☆☆ AI生成 (未検証)

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