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飞行时间二次离子质谱分析

v1
fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī

名詞
飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)。表面分析に用いる質量分析手法。
📝 分析化学・材料分析の専門用語。
他们用飞行时间二次离子质谱分析检测了样品表面。 (Tāmen yòng fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī jiǎncè le yàngpǐn biǎomiàn.)
彼らはTOF-SIMSで試料の表面を測定した。
飞行时间二次离子质谱分析具有很高的灵敏度。 (Fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī jùyǒu hěn gāo de língmǐndù.)
TOF-SIMSは非常に高い感度をもつ。
这项研究依赖飞行时间二次离子质谱分析的数据。 (Zhè xiàng yánjiū yīlài fēixíng shíjiān èrcì lízǐ zhìpǔ fēnxī de shùjù.)
この研究はTOF-SIMSのデータに依拠している。

⚖️ 類義語との比較

「飞行时间二次离子质谱分析」は表面の二次イオンを飛行時間で分析する手法で、一般的な「质谱(質量分析)」の一種である。
生成日: 2026/06/03 08:29