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静态二次离子质谱法

                    jìngtài èrcì lízǐ zhìpǔfǎ                

名詞・専門用語

静的二次イオン質量分析法（static SIMS）。一次イオン照射量を極めて低く抑え、試料最表面の分子情報を損なわずに分析する表面分析手法。

📝 材料科学・表面科学の分析手法。対語は「动态二次离子质谱法（dynamic SIMS）」。

静态二次离子质谱法适合分析有机薄膜的最表层。 (jìngtài èrcì lízǐ zhìpǔfǎ shìhé fēnxī yǒujī bómó de zuì biǎocéng.)

静的SIMSは有機薄膜の最表層の分析に適している。

他们用静态二次离子质谱法确认了聚合物表面的官能团。 (tāmen yòng jìngtài èrcì lízǐ zhìpǔfǎ quèrèn le jùhéwù biǎomiàn de guānnéngtuán.)

彼らは静的SIMSで高分子表面の官能基を確認した。

静态二次离子质谱法的一次离子剂量必须低于静态极限。 (jìngtài èrcì lízǐ zhìpǔfǎ de yīcì lízǐ jìliàng bìxū dīyú jìngtài jíxiàn.)

静的SIMSでは一次イオン線量を静的限界以下に抑えねばならない。

⚖️ 類義語との比較

「动态二次离子质谱法」は深さ方向の元素分析向けで試料を削るが、「静态二次离子质谱法」は最表面の分子構造を保ったまま解析する。

生成: claude-opus-4-8 ／生成日: 2026/07/19 22:23 ／ v1 ／ ★★★☆ 高性能AI生成

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